主要技术指标：
点分辨率：0.24nm
信息分辨率：0.14nm
放大倍数：25~1030K
最高加速电压：200KV
样品最大倾角：±40°
应用范围：
Tecnai G2 F20 S-TWIN 是由FEI公司开发的多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、SAD、STEM、EDX等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。
高性能的透射电子成像、扫描透射成像，用于观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析。如：高分辨电子显微观察，选区电子衍射，能谱分析，Z-衬度（原子序数）成像，元素的线、面分布等。
