X射线衍射仪

Bruker-AXS D8 Advance

··主要功能

    X 射线衍射仪，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料；可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。

主要的应用有：  

1. 粉末样品的物相定性与定量分析  

2. 计算结晶化度、晶粒大小  

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变  

4. Rietve ld 定量分析 （暂未配套对应软件） 

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度等

6. 可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构  

7. 小角散射与纳米材料粒径分布  

8. 微区样品的分析

日本岛津公司XRD-6100型

日本岛津公司XRD-6100型X射线衍射仪高速运转及高精度的角度重现性提供快速可靠性高的数据，垂直型测角仪可用于分析各种状态的样品，扩大了使用范围。

1. 最大管电压：60 kv

2. 扫描角度范围：-6^o-163^o

3. 扫描速度：0.1^o-50^o/min

4. 回转速度：1000^o/min

5. 测试精度：0.001^o/ 步

X射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。