货号 |
编号 |
参数 |
库存 |
价格 |
100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(55nm)-BOX layer(145nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(70nm)-BOX layer(145nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(70nm)-BOX layer(2000nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(75nm)-BOX layer(250nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(80nm)-BOX layer(1000nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(88nm)-BOX layer(200nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(90nm)-BOX layer(2000nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(145nm)-BOX layer(1000nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(160nm)-BOX layer(400nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(175nm)-BOX layer(1000nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(300nm)-BOX layer(300nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(400nm)-BOX layer(150nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(1250nm)-BOX layer(145nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(1250nm)-BOX layer(400nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(2100nm)-BOX layer(400nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(2700nm)-BOX layer(400nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(3500nm)-BOX layer(400nm) |
100 |
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100944 |
MK1314 |
8英寸-Device layer(3000nm)-BOX layer(300nm) |
100 |
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SOI衬底照片: 现货规格: 简介: SOI全称为Silicon-On-Insulator,即绝缘衬底上的硅,该技术是在顶层硅和背衬底之间引入了一层埋氧化层。材料通过在绝缘体上形成半导体薄膜,SOI材料具有了体硅所无法比拟的优点:可以实现集成电路中元器件的介质隔离,彻底消除了体硅CMOS电路中的寄生闩锁效应;采用这种材料制成的集成电路还具有寄生电容小、集成密度高、速度快、工艺简单、短沟道效应小及特别适用于低压低功耗电路等优势,因此可以说SOI将有可能成为深亚微米的低压、低功耗集成电路的主流技术。此外,SOI材料还被用来制造MEMS光开关,如利用体微机械加工技术。 SOI是硅晶体管结构在绝缘体之上的意思,原理就是在Silicon(硅)晶体管之间,加入绝缘体物质,可使两者之间的寄生电容比原来的少上一倍。优点是可以较易提升时脉,并减少电流漏电成为省电的IC。原本应通过交换器的电子,有些会钻入硅中造成浪费。SOI可防止电子流失。摩托罗拉宣称中央处理器可因此提升时脉20%,并减低耗电30%。除此之外,还可以减少一些有害的电气效应。还有一点,可以说是很多超频玩家所感兴趣的,那就是它的工作温度可高达300°C,减少过热的问题。 应用范围:
除了特异的优点,在集成电路中使用外,还被用于微光机电MEMS系统的制造,如3D反射镜阵列开关。该反射镜是在SOI衬底的活性层中形成可动反射镜,与另一台阶状电极的衬底连接而成。由于使用单晶硅衬底,且在可动反射镜,直径500微米,的上下面上对称的以同一条件而形成反射膜等,因此,具有10纳米级的翘曲与数十纳米的表面粗糙度。 优势: SOI 在器件性能上具有以下优点: 1) 减小了寄生电容,提高了运行速度。与体硅材料相比,SOI 器件的运行速度提高了20-35%; 2) 具有更低的功耗。由于减少了寄生电容,降低了漏电,SOI 器件功耗可减小35-70%; 3) 消除了闩锁效应; 4) 抑制了衬底的脉冲电流干扰,减少了软错误的发生; 5) 与现有硅工艺兼容,可减少 13-20%的工序。
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